相控陣檢測是指通過控制陣列檢測中輻射單元的饋電相位來改變方向圖形狀的檢測。控制相位可以改變檢測方向圖最大值的方向，從而實現(xiàn)波束掃描。

在特殊情況下，還可以控制副瓣電平、最小位置和整個圖案的形狀，例如獲得余弦平方圖案和對圖案的自適應控制。采用機械方法旋轉(zhuǎn)檢測時，慣性大，速度慢。相控陣檢測克服了這一缺點，波束的掃描速度高。它的饋電相位一般由電子計算機控制，且相位變化速度快(以毫秒計)，即檢測方向圖或其他參數(shù)的最大方向變化迅速。這是相控陣檢測最大的特點。

一般來說，相控陣檢測應該控制每個輻射單元的相位。為了節(jié)省移相器和簡化控制電路，有時幾個輻射單元共用一個移相器。共享移相器的單元組合稱為子陣列。

為了降低成本和簡化結(jié)構(gòu)，可以將檢測設(shè)計為在一維范圍內(nèi)(如在水平面上)機械旋轉(zhuǎn)，而采用相位控制來控制波束在另一維范圍內(nèi)(如在垂直平面上)的掃描。這種混合掃描檢測得到了廣泛的應用。

相控陣檢測的關(guān)鍵部件是移相器和檢測輻射單元。移相器有兩種類型:連續(xù)移相器和數(shù)字移相器。連續(xù)移相器的相移值可以在0°到360°的范圍內(nèi)連續(xù)變化，而數(shù)字移相器的相移值是離散的，只能是360°× (1/2) ^ n的整數(shù)倍，其中n為數(shù)字移相器的位數(shù)。例如，3位數(shù)字移相器的相移值只能為45°、90°、135°、180°、225°、270°、315°和360°。移相器既要保證在一定的頻率范圍內(nèi)獲得所需的相移值，又要滿足一定的功率電阻、溫度穩(wěn)定性等要求，以保證相控陣檢測在不同頻率和不斷變化的環(huán)境條件下都能正常工作。

檢測輻射單元的設(shè)計應使輸入阻抗在一定相移范圍(或波束掃描范圍)和一定頻率范圍內(nèi)的變化最小化，以保證發(fā)射機的正常工作，防止射頻信號多次反射在方向圖中產(chǎn)生寄生副瓣和凹點(盲點)。為此，可以采用相互耦合較小的單元或?qū)ｉT的解耦措施。